關(guān)于收到南昌航空航天大學高溫介電樣品一批的測量

    近日，我單位收到了南昌航空航天大學要求送樣一批樣品，要求做-120℃-400℃的高溫介電測量。這是該校委托我們第二批次數(shù)據(jù)測量，收到樣品后我們時間安排測試，并準確的給出了數(shù)據(jù)給老師，老師在收到我們的數(shù)據(jù)后給予滿意評價。未來我們將繼續(xù)為客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。

     

GWJDN-4型高低溫介電溫譜測量系統(tǒng)

關(guān)鍵詞:四通道，溫度：-190℃-1000℃，120MHZ

GWJDN-4型四通道同屏高溫介電溫譜測量系統(tǒng)運用三電極法設(shè)計原理測量，并參考美國A.S.T.M 標準。采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置，符合壓電陶瓷與其它新材料測試多樣化的需求。電壓、過電流、超溫等異常情況以保證測試過程的安全；資料保存機制，當遇到電腦異常瞬時斷電可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數(shù)據(jù)，設(shè)備重新啟動后可恢復原有試驗數(shù)據(jù)。用于分析寬頻、高低溫條件下樣品的介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線。可應(yīng)用于鐵電壓電陶瓷材料、半導體器件及功能薄膜材料等研究。

產(chǎn)品特點：

1、   提供多方位的測量功能和多元化的價位, 擁有出色的測量精度:

匹配國內(nèi)外阻抗分析儀是采用自動平衡電橋原理研制成功的新一代阻抗測試儀器，其0.05%的基本精度、達5.6ms的測試速度、10Hz-300MHz的頻率范圍及高達1GΩ的阻抗測試范圍可以滿足元件與材料的測量要求，特別有利于低損耗(D)電容器和高品質(zhì)因數(shù)(Q)電感器的測量。四端對的端口配置方式可有效消除測試線電磁耦合的影響，將低阻抗測試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴展了十倍。

2、      采用Labview系統(tǒng)開發(fā)具備彈性的自定義功能，可進行介電溫譜、頻譜、升溫速度、測量參數(shù)等設(shè)置。自動升溫降溫，測試功能強大

3、   四通道同時測量,提高效率,增加對比測試的精度;

材料與結(jié)構(gòu)匹配設(shè)計夾具,高低溫穩(wěn)定性好、精度高;

溫介電頻譜測試功能；變溫阻抗測試功能；掃頻測試功能；

軟件：采用C#語言編寫，可視化程度高，自動測試，同時顯示四通道的測試數(shù)據(jù)，并圖形化。

4、         專用高頻測試線纜，適合高頻測量：測試引線使用4端子對配置以擴展測量端口，附帶BNC陽頭連接板，用于連接高溫爐的測試夾具，同時測試線采用高頻測試專用測試線，設(shè)計兩層屏蔽。適合高頻介電參數(shù)測量。

5、      可以實現(xiàn)多種材料不同功能的測試，高溫介電，電阻測試等

探測采用鉑金電極，抗干擾能力強，測量精度高

高溫爐加熱均勻，可實現(xiàn)多種氣氛環(huán)境下的測試

介電系數(shù)、阻抗Z、電抗X、導納Y、電導G、電納B、電感L、介電損耗D、品質(zhì)因數(shù)Q等物理量，得到這些變化曲線的頻率譜、溫度譜、介電譜曲線，多種物理參數(shù)可實時測試

專用的分析和測試軟件，可以自行定義，保存數(shù)據(jù)

主要技術(shù)參數(shù)：

1、加熱范圍：  -190℃-1000℃

2、加熱方式：  雙傳感器

3、升溫速率：  10℃/min

4、溫度精度：  0.1℃

5、冷卻方式：  液氮

6、能否保護氣氛加熱：可以充氣氛

7、電極材料：  鉑銥金

8、測量功能：  阻抗各種功能

9、通道數(shù)：4通道

10、同時測試樣品數(shù)量：     四個樣品

11、測試頻率數(shù)量   20HZ-120MHZ

12、可配套：ZJ-3型D33系數(shù)測儀，配套PZT-JH10/4型壓電極化裝置

13、無電極樣品尺寸      直徑小于40mm，厚度小于8mm

14、帶電極樣品尺寸      直徑小于26mm，厚度小于8mm

15、電極干擾屏蔽   電極引線帶同軸屏蔽，樣品平臺帶屏蔽罩

16、夾具升降控制   帶程序和手動控制，可換夾具的電動升降裝置

17、熱電偶 熱電偶探頭與樣品平臺為同一熱沉，測控溫度與樣品溫度保持一致

18、軟件功能：自動分析數(shù)據(jù)，可以分類保存，樣品和測量方案結(jié)合在一起，生成系統(tǒng)所需的實驗方案，輸出TXT、XLS、BMP等格式文件

20、測量方案    提供靈活、豐富的測試設(shè)置功能，包括頻率譜、阻抗譜、介電譜及其組合

21、接口方式：包括Keysight\WayneKerr\Tonghui等多種LCR接口，

20、外形尺寸    L360mm*W370mm*H510mm

21、凈   重          22KG

22、標準極化樣品：8片（10mm*1.5mm）

23、配套設(shè)備裝置：能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測試儀進行測量

24、配套設(shè)備裝置：可以配置10MM，20MM，30MM，40MM壓片夾具

測試儀器：

高溫介電測試系統(tǒng)可適配Agilent E4990A/E4294A/E4980A、Wayne Kerr 6500P/B、

Tonghui TH2838/TH2839/TH2826/TH2828/TH2829/TH2827等系列LCR表或阻抗分析儀，其他品牌型號也可定制開發(fā)

Agilent E4990A

·         五種頻率選擇；20 Hz 至 10/20/30/50/120 MHz，可升級

·         ±0.08%（典型值 ±0.045%）基本阻抗測量精度

·         25Ω m 至 40 MΩ 寬阻抗測量范圍（10% 測量精度范圍）

·         測量參數(shù)：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、復合 Z、復合 Y、VAC、Iac、VDC、Idc

·         內(nèi)置直流偏置范圍：0 V 至 ±40 V、0 A 至 ±100 mA

·         10.4 英寸彩色 LCD 觸摸屏上的 4 通道和 4 跡線

·         數(shù)據(jù)分析功能：等效電路分析、極限線測試

Agilent E4294A

覆蓋了很寬的測試頻率范圍(40hz至110mhz)，具有±0.08%的基本阻抗精度。其優(yōu)異的高q值/低d值精度使其能分析低損耗元件。其寬信號電平范圍可用于在實際工作條件下評估器件。測試信號電平范圍為5mv至1vrms或200ua至20marms，直流偏置范圍為0v至±40v或0ma至±100ma。的校準和誤差補償功能避免了進行夾具內(nèi)器件測量時的測量誤差。agilent 4294a是適用于電子元件設(shè)計、論證、質(zhì)量控制和生產(chǎn)測試的強大工具。電路設(shè)計和開發(fā)工程師也能從它提供的性能和功能中受益。

Agilent E4980A

基本精度為0.1%

測試頻率為100Hz、120Hz、1kHz、10kHz、100kHz
量程為20mV～1Vrms,以5mVrms分檔
具有測試信號電平監(jiān)視功能
高速測量:25ms
高速接觸檢查
大的電容測試量程
變壓器參數(shù)測量(供選用)

Wayne Kerr 6500P/B

簡易的TFT觸屏操作，10分鐘內(nèi)輕易上手

  電介質(zhì)、壓電片及石英晶體測試解決方案

  30 ms超高速測試速度

  等效Rdc 可高度四線式測試，量測到0.01mΩ

  0.05%基本度

  可內(nèi)建0-100mA +/- 40V，外加可至60A DC Bias

  可將測試波形儲存成CSV格式，放大、縮小及MARKER功能

  20Hz~120MHz，七種機型，可隨時升級 ，高升級到120MHz

  直覺的用戶操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER

  可使用鼠標及鍵盤操控，也可外接打印機及使用USB接口儲存數(shù)據(jù)

  具等效電路仿真功能，內(nèi)建同頻率LCR Meter一臺