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JKZC-DH系列綜合型探針臺是一款綜合型晶圓測試探針臺,最大可完成12英寸晶圓的電學測試。此系列探針臺設備配 置十分豐富,不僅具備龍門架結構和卡盤的升降功能,還具備業內領先的卡盤快速移動技術,可快速定位 樣品位置,提高測試效率。另外針座平臺具備三段式升降功能,在不失焦的情況下可以使樣品和探針做到 快速分離,同時...
JKZC-DH系列綜合型探針臺
|產品概要
JKZC-DH系列綜合型探針臺是一款綜合型晶圓測試探針臺,最大可完成12英寸晶圓的電學測試。此系列探針臺設備配 置十分豐富,不僅具備龍門架結構和卡盤的升降功能,還具備業內領先的卡盤快速移動技術,可快速定位 樣品位置,提高測試效率。另外針座平臺具備三段式升降功能,在不失焦的情況下可以使樣品和探針做到 快速分離,同時也方便探針卡的使用。此設備在大型實驗室或者半導體工廠得到廣泛運用,配合對應的儀器儀表,可以完成集成電路/芯片/MEMS器件/PCB元器件/材料器件的IV/CV特性測試/管芯晶圓/LED/LC- D/太陽能電池行業的測試。此系列探針臺可以實現1μm以上的Pad電極測試,也可以實現搭載探針卡的測 試。
|JKZC-DH系列綜合型探針臺技術特點
?卡盤可360度快速移動,便于快速定位樣品位置,提高測試效率;
?三段式可升降探針座平臺,在不失焦的情況下可以使樣品和探針做到快速分離;
?加厚級剛性金屬框架結構設計,領先的內部防震技術,結構性能穩定。
JKZC-DH系列綜合型探針臺詳細參數
產品型號 技術參數 |
JKZC-DH6 |
JKZC-DH8 |
JKZC-DH12 |
|
探針臺本體 |
主體材料 |
航空鋁 |
航空鋁 |
航空鋁 |
整機尺寸(mm) |
750L*550W*680H |
800L*580W*680H |
930L*700W*680H |
|
重? |
75kg |
95kg |
150kg |
|
卡盤大小 |
6" ,360度轉動,可微調 |
8",360度轉動,可微調 |
12;360度轉動,可微調 |
|
卡盤XY軸行程 |
6"6",精度 10um |
8"*8",精度 10um |
12"*12"3m 度 10um |
|
卡盤Z軸行程 |
快速升降5mm,微調升降行程6mm,精度1微米 |
|||
卡盤材質 |
不銹鋼鍍金,具備更小的接觸電阻 |
|||
卡盤氣浮移動范圍 |
360度快速移動,便于快速定位,提高測試效率 |
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卡盤吸附方式 |
真空吸附,可選擇環形吸附或者多孔吸附(適用于薄片) |
|||
背電極測試功能 |
卡盤鍍金,電學獨立懸空,帶2個4mm香蕉頭插口,具備背電極功能 |
|||
其它功能 |
帶標準接地保護,可升級 |
|||
針座平臺 |
材質 |
U型平臺,Q235鍍銀,帶接地端子 |
||
大小 |
最多可放置6個探針座 |
最多可放置8個探針座 最多可放置12個探針座 |
||
三段式升降平臺 |
探針平臺可以快速升降,擁有5mm和300um兩檔,探針平臺可以上下微調, 行程25mm,升降精度gm。(使用探針卡的時候使用) |
|||
顯TH系統 |
顯微鏡類型 |
體式顯微鏡/視頻顯微鏡/金相顯微鏡+CCD成像系統 |
||
倍率范圍 |
16X~200X/40X~280X/20X~4000X |
|||
顯微鏡行程 |
具備高剛性龍門架結構,XYZ行程分別為2英寸*2英寸*2英寸,精度lum |
|||
CCD成像系統 |
2k或者4K相機,幀率60fps,帶拍照/錄像/測量功能等功能 |
|||
探針座 |
種類 |
絲桿型/微分頭型/經濟型探針座 |
||
X¥Z行程 |
12.5mm-12.5mm-12.5mm |
|||
機械精度 |
0.5um/0.7um/2um |
|||
夾具 |
漏電精度 |
同軸夾具10pA/H軸夾具lOOfA |
||
接口形式 |
同軸/三軸/SMA/香蕉頭/鱷魚夾/裸線等接口 |
|||
其它 |
選件 |
屏蔽箱/防震桌/射頻/同軸/三軸加熱卡盤/探針卡/光電流顯微鏡/大功率/半自動 |
||
電力需求 |
220W50HZ |
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