生產用高頻光電導壽命測試儀功能簡介：
τ:10～6000μs，ρ＞3Ω·cm ，配數字示波器
高頻光電導少子壽命測試儀用于硅、鍺單晶的少數載流子壽命測量，除需要有一個測量平面外，對樣塊體形無嚴格要求，可測塊狀和片狀單晶壽命。壽命測量可靈敏地反映單晶體內重金屬雜質污染及缺陷存在的情況，是單晶質的重要檢測項目。
KDKLT-1B高頻光電導少子壽命測試儀_生產用高頻光電導壽命測試儀測量范圍：
可測硅單晶的電阻率范圍：ρ≥0.1Ω·㎝（歐姆·厘米）
壽命值的測量范圍：5～6000μｓ（微秒）
生產用高頻光電導壽命測試儀參數：
1、光脈沖發生裝置:
重復頻率>25次/s
脈    寬>60μｓ
光脈沖關斷時間＜1μｓ
紅外光源波長：1.06～1.09μm（測量硅單晶）
脈沖電流：～20A
如測量鍺單晶壽命需配置適當波長的光源
2、高頻源:
頻    率：30MHz低輸出阻抗
輸出功率>1W
放大器和檢波器:
頻率響應：2Hz～2MHz
3、配用示波器：
高頻光電導少子壽命測試儀配用示波器：頻帶寬度不低于10MHz，Y軸增益及掃描速度均應連續可調。