X射線金屬化陶瓷鍍層測厚儀EDX 600 PLUS是天瑞儀器股份有限公司集多年X熒光鍍層厚度測量技術經驗，zhuan 門研發的一款下照式結構的鍍層測厚儀。測量方便快捷，無需液氮，無需樣品前處理。...

X射線金屬化陶瓷鍍層測厚儀

陶瓷具有gao硬度、耐磨、耐腐蝕、絕緣、膨脹系數低等 you 點。但由于其自身的脆性,也xian zhi 了其在許多ling yu的應用。但與強韌性,延展性以及導電性的金屬結合后的金屬化陶瓷便能hen好的彌補陶瓷的這些不足,使之成為一種應用guang fan的基礎元器件。

所謂的陶瓷金屬化,就是在陶瓷表面 lao固地粘附一層金屬薄膜,使之實現陶瓷和金屬間的焊接。其中有燒結鉬錳,燒結鉬錳后覆鎳,燒結銀,燒結鎢后覆鎳覆金等。這些新型陶瓷已被guang fan應用到集成電路、電力電容器、壓電陶瓷、微電子行業、通訊行業以及航空航天中。而直接ying xiang到陶瓷產品質量的金屬涂層厚度的guan kong也成為了行業內的生產企業所重點關注的問題。

我司的EDX 600PLUS鍍層測厚儀,目前已 da 量應用于特陶行業內的金屬涂層厚度guan kong,受到了guang fan的認可。

X射線金屬化陶瓷鍍層測厚儀產品設計：

下照式設計，搭配gao分辨率可變焦攝像頭，配合gao性能距離補正算法，能 hen 好的對不規則樣品(如凹凸面，拱形，螺紋，曲面等)的異型測試面的jing準測試。Jin口的 gao 功率高壓單元搭配微焦斑的X光管，geng 小準直器：0.1*0.3mm;φ0.2mm;φ0.3mm; φ0.5mm等等，能wan mei 的將不同的元素準確解析，針對多鍍層與復雜合金鍍層的測量，有著不可比擬的you shi。

X射線金屬化陶瓷鍍層測厚儀對工業電鍍、化鍍、熱鍍等各種鍍層的成分厚度以及電鍍液金屬離子濃度進行jing準檢測，幫助企業準確核算成本及質量guan kong。可應用于光伏行業、五金衛浴、電子電器、航空航天、磁性材料、汽車行業、通訊行業等ling yu。

X射線金屬化陶瓷鍍層測厚儀技術參數：
X射線檢測
信號接收器：Fast-SDD大窗口探測器
分析方法：FP與EC法兼容能量色散X熒光分析方法
同時檢測鍍層及元素：可同時分析5層以上鍍層，并測量24種元素
測量元素范圍：13Al(鋁)~92U(鈾)之間的元素均可測量
檢出限:金屬鍍層分析 zui 薄可0.0025μm
檢測時間:5秒以上
樣品觀測配置
樣品照明：LED燈，下方垂直環繞照射(可調節亮度)
樣品觀察對焦：高分辨率彩色CCD變焦工業攝像頭，沿初級X射線光束方向觀察測量位置， 帶有經過校正的刻度和測量點指示的十字線，手動測距對焦
倍率：圖像可放大倍數20x-160x,實現微小樣品清晰 ding wei
樣品移動平臺：手動X/Y  gao jing 度移動平臺
an quan 保護
an quan 性：平臺的凸出設計，開蓋停止bao hu ，多重金屬及鉛玻璃防止輻射，保障用戶an quan.

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