鍍層測厚儀應(yīng)用和工作原理

鍍層測厚儀俗稱X射線熒光測厚儀、鍍層測厚儀、膜厚儀、x熒光測厚儀、膜厚測試儀、金鎳厚測試儀、電鍍膜厚儀等，主要用于測量金屬電鍍層的厚度。功能：測量金屬電鍍層的厚度；應(yīng)用范圍：測量鍍層,涂層,薄膜,液體的厚度或組成。

工作原理：X射線熒光什么是X射線?X射線存在于電磁波譜中的一個特定區(qū)域,它由原子內(nèi)部電子躍遷產(chǎn)生,其波長范圍在0.1-100Å;能量大于100電子伏特.什么是X射線熒光?X射線熒光 是一個原子或分子吸收了特定能量的光子后釋放出較低能量的光子的過程。

應(yīng)用：電路板、端子連接器、LED、半導(dǎo)體、衛(wèi)浴潔具、五金電鍍、珠寶飾、汽車配件、檢測機(jī)構(gòu)以及研究所和高等院校等。