ICP發射光譜儀優異的分析特性

1、ICP光譜儀分析法先是一種發射光譜分析方法，可以多元素同時測定。不論是多道直讀還是單道掃描儀器，均可以在同一試樣溶液中同時測定大量元素(30--50個，甚至更多)。已有文獻報導的分析元素可達78個，即除氬以外的所有元素，自然界存在的所有元素，都已有用ICP發射光譜儀法測定的報告。而在實際應用上，并非所有元素都能方便地使用ICP-AES法進行測定，仍有些元素的測定采用其他分析手段更為有效，盡管如此ICP光譜儀分析法仍是元素分析為有效的方法。

2、線性分析范圍寬。分析物在溫度較低的中間通道內電離和激發，由于外圍溫度高，這就消除了一般發射光譜法的自吸現象。在一定高濃度(一般元素數百μg／mL溶液濃度)范圍內，其工作曲線仍能保持直線；而低含量(0.0Xμg/mL以下)由于檢出限低，又可使工作曲線向下延長。因此，工作曲線的直線范圍可達5～6個數量級，待測元素的質量濃度在1000μg/L以下一般都能呈良好的線性關系。對于ICP直讀光譜法，主量、低量和痕量元素可同時進行分析。

3、ICP光譜儀分析法具有較高的蒸發、原子化和激發能力，干擾水平比較低。由于等離子體光源的異常高溫，可以避免一般分析方法的化學干擾、基體干擾，與其他光譜分析方法相比，干擾水平比較低。等離子體焰矩的溫度比一般化學火焰更高，能使一般化學火焰難以激發的元素原子化、激發，所以有利于難激發元素的測定。而且Ar氣氛中不易生成難熔的金屬氧化物，從而使基體效應和共存元素的影響變得不明顯。ICP光源的自吸現象很低，校正曲線的線性范圍可達5--6個數量級，在大多數情況下，元素濃度與測量信號呈簡單的線性。因此在許多情況下可用人工配制的校準溶液。在一定條件下，可以減少參比樣品嚴格匹配的麻煩，一般亦可不用內標法。Ar-ICP光源電離干擾小，即使分析樣品中存在容易電離的K或Na，參比樣品也不用匹配K或Na的成分。而火焰原子吸收光譜法，在分析Na時，需要添加大量的K來抑制Na的電離干擾。低的干擾水平和高的分析準確度，是ICP光譜法主要的優點之一。既可測低濃度成分，又可同時測高濃度成分，是充分發揮ICP光譜儀分析多元素同時測定能力的一個非常有價值的分析特性。