生鐵中 的 Si分析與化學分析 誤差比較大,C和S 與碳硫分析儀 對不上C的差距大，S的分析有時候差距比較大 一般 正負2 左右.分析標樣還可以 為什么會這樣?

(1) 我分析可能是制樣導致的差距,可以多分析幾個標樣,看看怎樣,如果標樣分析不相差,只是樣品分析存在差距,可以從制樣過程中找原因,樣品制樣過程過熱,也可能導致碳有差距.僅為個人看法.
(2) 建議用儀器制造商提供的人工晶體分析Si（如果有的話）；通常，XRF分析 C和S沒有碳硫分析儀準確。
(3) 主要是基體影響造成的。要采用與被測樣品基體相同、含量接近的標準物質進行校正，予以克服。
(4) 碳分析不是熒光強項,大偏差正常;其它元素分析時必須考慮制樣問題,保持分析樣品與建立曲線時一致.
(5) C用熒光肯定誤差較大，根據我過去的開發經驗，S與CS分析儀還是比較接近的，可能你的標準曲線樣與測試樣基體差別較大，一般工業上要每天對曲線進行維護的！
(6) 分析生鐵中的硅可能會出現與化學值形成系統性的偏差,這可能是和生產工藝及澆鑄過程有關,可以采用數學方法進憲修正,關于碳硫,可能產生不穩定的偏差,這與制樣手法,磨樣力度,時間等制樣條件有關,所以,一般生鐵中碳硫不要用X熒光分析,可以用碳硫儀分析.
(7) 兩種方法都存在誤差。XRF對SI的重現性不好，其受溫度影響較大，精度不高，XRF對重元素的分析精度還可以。CS分析儀對CS分析的重現性很好，應可以信任。
(8) 先你要搞清楚分析方法的適用范圍，確定分析結果的不確定度，這樣問題就突現的比較明顯了。