2009年，JEOL推出了zui高加速電壓200kV的球差校正透射電鏡JEM-ARM200F,在全大獲成功，把人類認識微觀的能力向前推進了一大步。在今年的5月7日，日本電子株式會社（JEOL）同步發布了終分辨率的新一代球差校正透射電鏡JEM-ARM300F,把商業化的透射電鏡推向了一個新限。
隨著球差校正透射電鏡在全的普及和市場需求的不斷變化，JEOL總結了JEM-ARM200F的成功經驗，并開發出了自己的12球差校正器，加裝在新一代球差校正透射電鏡JEM-ARM300F上。不但大幅度提高分辨率，而且對樣品的分析能力、原位觀察能力、球差校正的操作方便性等都有飛躍性的提升。
JEM-ARM300F標配日本電子的12球差校正器、高亮度冷場發射電子槍，TEM的保證分辨率為0.05nm, STEM HAADF的保證分辨率為0.063nm。
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