四探針電阻率/方阻測試儀  KDK-KDY-1

KDK-KDY-1型四探針電阻率測試儀是嚴格按照硅片電阻率測量的國際標準(ASTM F84)及國家標準設計制造，并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進。

整套儀器有如下特點：

1、 配有雙數字表：一塊數字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數字表(以萬分之幾的精度)適時監測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更精確。數字電壓表量程：0—199.99mV  靈敏度：10μV  輸入阻抗：1000ΜΩ                  0—9.999mV  靈敏度：1μV  輸入阻抗：10ΜΩ                  基本誤差±(0.04-0.05%讀數+0.01%滿度)2、 可測電阻率范圍：0.001—6000Ω•cm。3、 設有電壓表自動復零功能，當四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、4探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、3探針間的電壓(即電阻率)值，避免空間雜散電波對測量的干擾。4、 流經硅片的測量電流由高度穩定(萬分之幾精度)的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響。電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。5、 儀器采用觸點電阻更低(＜5mΩ)、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器(＞10萬次)，在絕緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。6、 可加配HQ-710E微處理機及打印機，實現自動換向測量、求平均值，計算并打印電阻率zui大值、zui小值、zui大百分變化率、平均百分變化率等內容。7、 四探針頭采用國際上先進的紅寶石軸套導向結構，使探針的游移率減小，測量重復性提高