HCJDCS-A型 介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
一、介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀介紹
HCJDCS-A介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下緣材料的測(cè)試。
相關(guān)介紹
介電常數(shù)又稱電容率或相對(duì)電容率，是表征電介質(zhì)或緣材料電性能的一個(gè)重要數(shù)據(jù)，常用ε表示。 介質(zhì)在外加電場(chǎng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生感應(yīng)電荷而削弱電場(chǎng)，原外加電場(chǎng)(真空中)與終介質(zhì)中電場(chǎng)比值即為介電常數(shù)。其表示電介質(zhì)在電場(chǎng)中貯存靜電能的相對(duì)能力，例如一個(gè)電容板中充入介電常數(shù)為ε的物質(zhì)后可使其電容變大ε倍。介電常數(shù)愈小緣性愈好。如果有高介電常數(shù)的材料放在電場(chǎng)中，場(chǎng)的強(qiáng)度會(huì)在電介質(zhì)內(nèi)有可觀的下降。介電常數(shù)還用來(lái)表示介質(zhì)的化程度，宏觀的介電常數(shù)的大小，反應(yīng)了微觀的化現(xiàn)象的強(qiáng)弱。氣體電介質(zhì)的化現(xiàn)象比較弱，各種氣體的相對(duì)介電常數(shù)都接近1，液體、固體的介電常數(shù)則各不相同，而且介電常數(shù)還與溫度、電源頻率有關(guān)。
些物質(zhì)介電常數(shù)具有復(fù)數(shù)形式，其實(shí)部即為介電常數(shù)，虛數(shù)部分常稱為耗散因數(shù)。
通常將耗散因數(shù)與介電常數(shù)之比稱作耗散角正切，其可表示材料與微波的耦合能力，耗散角正切值越大，材料與微波的耦合能力就越強(qiáng)。例如當(dāng)電磁波穿過(guò)電解質(zhì)時(shí)，波的速度被減小，波長(zhǎng)也變短了。
二、介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀適用范圍
該儀器用于科研單學(xué)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
三、介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定儀儀器技術(shù)參數(shù)
1 Q值測(cè)量范圍：5～999
Q值量程分檔：30、100、300、999、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換擋
誤差：25kHz～10MHz ≤5%±滿度值的2%
10MHz～50MHz ≤7%±滿度值的2%
2 電感測(cè)量范圍：0.1μH～1H 分七個(gè)量程
3 電容測(cè)量范圍：1PF～460PF
主電容調(diào)節(jié)范圍：40PF～500 PF
準(zhǔn)確度：150PF以下±1.5PF
150PF以上±1%
微調(diào)電容調(diào)節(jié)范圍：-3PF～0PF～+3PF
準(zhǔn)確度：±0.2PF
4 頻率覆蓋范圍：25 kHz～50MHz 分七段
指示誤差：2×10-4±2個(gè)字
5 電源：220V±22V 50Hz±2.5Hz 25W
6 環(huán)境溫度：(0～+40)℃
7 相對(duì)濕度：RH<80%
8 外形尺寸：380mm×132mm×280mm
9 重量：約7kg
10.電感9只；
11.夾具一套
HCJDCS-B型 介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
一、介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀介紹
HCJDCS-B介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下緣材料的測(cè)試。
二、相關(guān)介紹
介電常數(shù)又稱電容率或相對(duì)電容率，是表征電介質(zhì)或緣材料電性能的一個(gè)重要數(shù)據(jù)，常用ε表示。 介質(zhì)在外加電場(chǎng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生感應(yīng)電荷而削弱電場(chǎng)，原外加電場(chǎng)(真空中)與終介質(zhì)中電場(chǎng)比值即為介電常數(shù)。其表示電介質(zhì)在電場(chǎng)中貯存靜電能的相對(duì)能力，例如一個(gè)電容板中充入介電常數(shù)為ε的物質(zhì)后可使其電容變大ε倍。介電常數(shù)愈小緣性愈好。如果有高介電常數(shù)的材料放在電場(chǎng)中，場(chǎng)的強(qiáng)度會(huì)在電介質(zhì)內(nèi)有可觀的下降。介電常數(shù)還用來(lái)表示介質(zhì)的化程度，宏觀的介電常數(shù)的大小，反應(yīng)了微觀的化現(xiàn)象的強(qiáng)弱。氣體電介質(zhì)的化現(xiàn)象比較弱，各種氣體的相對(duì)介電常數(shù)都接近1，液體、固體的介電常數(shù)則各不相同，而且介電常數(shù)還與溫度、電源頻率有關(guān)。
些物質(zhì)介電常數(shù)具有復(fù)數(shù)形式，其實(shí)部即為介電常數(shù)，虛數(shù)部分常稱為耗散因數(shù)。
通常將耗散因數(shù)與介電常數(shù)之比稱作耗散角正切，其可表示材料與微波的耦合能力，耗散角正切值越大，材料與微波的耦合能力就越強(qiáng)。例如當(dāng)電磁波穿過(guò)電解質(zhì)時(shí)，波的速度被減小，波長(zhǎng)也變短了。
三、介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀適用范圍
該儀器用于科研單學(xué)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
四、介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定儀儀器技術(shù)參數(shù)
信號(hào)源頻率范圍 DDS數(shù)字合成 10KHz-60MHz
信號(hào)源頻率覆蓋比 6000:1
Q測(cè)量范圍 1-1000自動(dòng)/手動(dòng)量程
Q分辨率 4位有效數(shù),分辨率0.1
Q測(cè)量工作誤差 <5%
信號(hào)源頻率精度 3X10 -5 ±1個(gè)字,6位有效數(shù)
電感測(cè)量范圍 15nH-8.4H,4位有效數(shù),分辨率0.1nH
電感測(cè)量誤差 <5%
標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量頻點(diǎn) 全波段任意頻率下均可測(cè)試
諧振點(diǎn)搜索 自動(dòng)掃描
諧振指針 LCD顯示
調(diào)諧電容 主電容 30-500P
調(diào)諧電容誤差和分辨率 ±1.5P或<1%
Q合格預(yù)置范圍 5-1000聲光提示
Q量程切換 自動(dòng)/手動(dòng)
LCD顯示參數(shù) F,L,C,Q,波段等
電感9只；
夾具一套
HCJDCS-C型 介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀
一、介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀介紹
HCJDCS-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下緣材料的測(cè)試。
HCJDCS-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為新一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前zui高的160MHz。采用了多項(xiàng)技術(shù)：
1. 雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。
2. 雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。
3. 雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
4. 自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。
5. 全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。
6. DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高、幅度的高穩(wěn)定。
7. 計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路優(yōu)化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至zui低，徹底根除 Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。
介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無(wú)疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具，測(cè)量值更為，測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì)，無(wú)須關(guān)注量程和換算單位。
二、相關(guān)介紹
介電常數(shù)又稱電容率或相對(duì)電容率，是表征電介質(zhì)或緣材料電性能的一個(gè)重要數(shù)據(jù)，常用ε表示。 介質(zhì)在外加電場(chǎng)時(shí)會(huì)產(chǎn)生感應(yīng)電荷而削弱電場(chǎng)，原外加電場(chǎng)(真空中)與終介質(zhì)中電場(chǎng)比值即為介電常數(shù)。其表示電介質(zhì)在電場(chǎng)中貯存靜電能的相對(duì)能力，例如一個(gè)電容板中充入介電常數(shù)為ε的物質(zhì)后可使其電容變大ε倍。介電常數(shù)愈小緣性愈好。如果有高介電常數(shù)的材料放在電場(chǎng)中，場(chǎng)的強(qiáng)度會(huì)在電介質(zhì)內(nèi)有可觀的下降。介電常數(shù)還用來(lái)表示介質(zhì)的化程度，宏觀的介電常數(shù)的大小，反應(yīng)了微觀的化現(xiàn)象的強(qiáng)弱。氣體電介質(zhì)的化現(xiàn)象比較弱，各種氣體的相對(duì)介電常數(shù)都接近1，液體、固體的介電常數(shù)則各不相同，而且介電常數(shù)還與溫度、電源頻率有關(guān)。
些物質(zhì)介電常數(shù)具有復(fù)數(shù)形式，其實(shí)部即為介電常數(shù)，虛數(shù)部分常稱為耗散因數(shù)。
通常將耗散因數(shù)與介電常數(shù)之比稱作耗散角正切，其可表示材料與微波的耦合能力，耗散角正切值越大，材料與微波的耦合能力就越強(qiáng)。例如當(dāng)電磁波穿過(guò)電解質(zhì)時(shí)，波的速度被減小，波長(zhǎng)也變短了。
三、介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀適用范圍
該儀器用于科研單學(xué)、學(xué)校、工廠等單位對(duì)無(wú)機(jī)非金屬新材料性能的應(yīng)用研究。
四、介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)定儀技術(shù)參數(shù)
Q 值測(cè)量范圍 2 ～ 1023 ， 量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔
固有誤差 ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差 ≤7％ ± 滿度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測(cè)量范圍 4.5nH ～ 140mH
電容直接測(cè)量范圍 1 ～ 200pF
主電容調(diào)節(jié)范圍 18 ～ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度 120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1 ％
信號(hào)源頻率覆蓋范圍 100kHz ～ 160MHz
頻率分段 （ 虛擬 ） 100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz
頻率指示誤差 3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字 電感9只；
夾具一套
五、電氣緣材料測(cè)試相關(guān)產(chǎn)品：
HCDJC-0-100KV 介電擊穿試驗(yàn)儀
HEST-200 體積表面電阻率測(cè)定儀
HCJDCS-A介質(zhì)損耗測(cè)定儀/介電常數(shù)測(cè)定儀
HCJDCS-B介質(zhì)損耗測(cè)試儀/介電常數(shù)測(cè)定儀
HCJDCS-C介質(zhì)損耗測(cè)定儀/介電常數(shù)測(cè)試儀
HCDH-20KV 耐電弧小電流試驗(yàn)儀
HCQBX-20KV 漆包線擊穿電壓試驗(yàn)儀
HCNLD-B 耐漏電起痕試驗(yàn)儀
公司名稱：北京華測(cè)試驗(yàn)儀器有限公司
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