高頻LCR數字電橋/高頻數字電橋  型號：DL-TH2826A

性能特點
■ 臺符合LXI標準的LCR表
■ 測試頻率20Hz～5MHz，10mHz步進
■ 測試電平10mV～5V, 1mv步進
■ 基本準確度0.1%
■ zui高達200次/s的測量速度
■ 320×240點陣大型圖形LCD顯示
■ 五位讀數分辨率
■ 可測量22種阻抗參數組合
■ 四種信號源輸出阻抗
■ 10點列表掃描測試功能
■ 內部自帶直流偏置源
■ 外置偏流源至40A(配置兩臺TH1776)(選件)
■ 電壓或電流的自動電平調整(ALC)功能
■ V、I測試信號電平監視功能
■ 圖形掃描分析功能
■ 20組內部儀器設定可供儲存/讀取
■ 內建比較器,10檔分選及計數功能
■ 多種通訊接口方便用戶聯機使用
■ 2m/4m測試電纜擴展(選件)
■ 中英文可選操作界面
簡要介紹
■TH2826系列元件測試儀是臺符合LXI標準的新
一代阻抗測試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz
的頻率范圍可以滿足元件與材料大部分低壓參數的測量
要求，可廣泛應用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷
電容器、液晶顯示器、變容二管、變壓器等進行諸多電
氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。
■TH2826系列產品高速的測試速度使其特別適用于
自動生產線的點檢機，壓電器件的頻率響應曲線分析等
等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個電感變壓器廠家
的不同標準需求。
■TH2826系列產品以其的性能可以實現商業標準和軍
用標準如IEC和MIL標準的各種測試。
廣泛的測量對象
無源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、
芯片組件和網絡元件等的阻抗參數評估和性能分析。
半導體元件：變容二管的C-VDC特性；晶體管或集成電路
的寄生參數分析
其它元件：印制電路板、繼電器、開關、電纜、電池等的阻
抗評估
介質材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數和損耗角評估
磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導磁率和損耗
角評估
半導體材料：半導體材料的介電常數、導電率和C-V特性
液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常數等C-V特性
TH2826/TH2826A
技術參數
測試參數C, L, R,Z,Y,X,B, G, D, Q, θ,DCR
測試頻率
TH2826 20 Hz～5MHz,10mH步進
TH2826A 20 Hz～2MHz,10mH步進
測試信號電
平
f≤1MHz 10mV～5V,±（10%+10mV）
f>1MHz 10mV～1V,±（20%+10mV)
輸出阻抗10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
基本準確度0.1%
顯示范圍
L 0.0001 uH ～ 9.9999kH
C 0.0001 pF ～ 9.9999F
R,X,Z,DCR 0.0001 Ω ～ 99.999 MΩ
Y, B, G 0.0001 nS ～ 99.999 S
D 0.0001 ～ 9.9999
Q 0.0001 ～ 99999
θ -179.99°～ 179.99°
測量速度快速: 200次/s（f﹥30KHz）,100次/s（f﹥1KHz）
中速: 25次/s, 慢速: 5次/s
校準功能開路 / 短路點頻、全頻清零，負載校準
等效方式串聯方式, 并聯方式
量程方式自動, 保持
顯示方式直讀, Δ, Δ%
觸發方式內部, 手動, 外部, 總線
內部直流偏
置源
電壓模式
-5V ～ +5V,
±(10%+10mV), 1mV步進
電流模式（內
阻為50Ω）
-100mA ～ +100mA,
±(10%+0.2mA),20uA步進
比較器功能10檔分選及計數功能
顯示器320×240點陣圖形LCD顯示
存儲器可保存20組儀器設定值
接口
USBDEVICE( USBTMC and USBCDC support)
USBHOST(FAT16 and FAT32 support)
LAN(LXI class C support)
RS232C
HANDLER
GPIB（選件）