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價格:電議
所在地:北京
型號:RHA-CJ-JX2000A/B
更新時間:2017-12-12
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公司地址:北京市門頭溝石龍經濟開發區永安路20號石龍高科大廈
李冉(女士) 業務員
顯微圖像分析儀 型號:RHA-CJ-JX2000A/B
RHA-CJ-JX2000A型: 應用范圍:配置透射顯微鏡,適用于電子、磨料、陶瓷、藥品、涂料、水泥、化工、食品、農藥、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、高嶺土、硬質合金、催化劑、燃料、云母粉、耐火材料、填料、石墨、顏料等各種粉末物料,玻璃纖維,礦巖成分判斷(偏光)。 |
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RHA-CJ-JX2000B型: 應用范圍:配置透反射顯微鏡,適用于冶金、電子、陶瓷、磨料、涂料、硅灰石、醫藥、金屬、非金屬礦等各種粉體顆粒的形貌觀察和粒度分析;還可用于陶瓷.金屬合金等各種不透光的物體表面結構的觀察測試。 |
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產品簡介: | ||||
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處理功能圖示: | ||||
圖像采集:可調整圖像高度、寬度、分辨率等。 | ||||
附圖:各種粉末顆粒圖像(透射) | ||||
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附圖:各種金相圖(反射): | ||||
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圖像處理前: 圖像處理后: | ||||
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