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價格：電議
所在地：北京
型號：FT-330系列
更新時間：2016-05-26
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公司地址：北京市海淀區知春路118號知春電子城E316
卓向東(先生) 銷售經理
GB/T 1551-2009《硅單晶電阻率測定方法》、
GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、
GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準，本機配置232電腦接口及USB兩種接口，本機結合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產品測量，更加準確.
本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于生產企業、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。
本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。
液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
采用AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；
本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
廣泛用于：
覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發鋁膜，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜，抗靜電材料， EMI 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等
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規格型號 |
FT-331 |
FT-332 |
FT-333 |
FT-334 |
FT-335 |
FT-336 |
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1.方塊電阻范圍 |
10-5～2×105Ω/□ |
10-4～2×103Ω/□ |
10-3～2×105Ω/□ |
10-3～2×103Ω/□ |
10-2～2×105Ω/□ |
10-2～2×103Ω/□ |
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2.電阻率范圍 |
10-6～2×106Ω-cm |
10-5～2×104Ω-cm |
10-4～2×106Ω-cm |
10-4～2×104Ω-cm |
10-3～2×106Ω-cm |
10-3～2×104Ω-cm |
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3.測試電流范圍 |
0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA |
10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA |
0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA |
10μA，100µA，1mA，10mA， 100 mA |
0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA |
1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA |
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4.電流精度 |
±0.1%讀數 |
±0.2%讀數 |
±0.2%讀數 |
±0.3%讀數 |
±0.3%讀數 |
±0.3%讀數 |
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5.電阻精度 |
≤0.3% |
≤0.3% |
≤0.3% |
≤0.5% |
≤0.5% |
≤0.5% |
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6.顯示讀數 |
液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率 |
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7.測試方式 |
普通單電測量 |
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8.工作電源 |
輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W |
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9.整機不確定性誤差 |
≤4%（標準樣片結果） |
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10.選購功能 |
選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺 |
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11.測試探頭 |
探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規格; 探針材質選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針 |
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