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FT-340 高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)

寧波瑞柯微智能科技有限公司
會員指數(shù): 企業(yè)認證:       

價格:電議

所在地:浙江 寧波市

型號:FT-340

手機:18100127132(微信號碼同步)

電話:0574-27975197

更新時間:2024-08-19

瀏覽次數(shù):1791

公司地址:浙江省寧波市江北區(qū)慈城鎮(zhèn)張嘉路91弄9號

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產(chǎn)品簡介

高溫四探針電阻率測試系統(tǒng) 一.概述:overview采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置專用的高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制,滿足半導體材料的電導率對溫度變化測量要求

公司簡介

ROOKO[瑞柯微]儀器經(jīng)營--專注于粉體和材料測試與分析儀器的產(chǎn)銷及服務;產(chǎn)品服務于科研、院校、實驗室及企業(yè)研發(fā)部門;“質(zhì)量為本、服務先行”之經(jīng)營理念;致力于創(chuàng)新為客戶提供解決方案;堅持差異化經(jīng)營,求同存異;以創(chuàng)新,改變認知,提升品質(zhì)為使命;采用新技術、新方法、提升客戶價值為全員謀福祉為愿景;堅持修己、求進、創(chuàng)新為價值觀;與廣大用戶共進步,共發(fā)展.目前經(jīng)營如下系列產(chǎn)品:1.粉體、顆粒測試儀器系列;2.材料電性能測試儀系列;3.流變儀和粘度計系列;4.熱分析儀器系列.

1.粉體、顆粒測試儀器系列:粉末流動性測試儀,堆密度儀,粉體綜合特性測試儀,粉體屈服強度測試儀.粉體流變儀,粉末電阻率測試儀,休止角測定儀,安息角測定儀,松裝密度測定儀,振實密度儀,斯柯特容量計,霍爾流速計,表觀密度測定儀,顆粒強度測定儀.

2.導體/半導體/絕緣材料電性能測試系列:料表面/體積電阻率測試儀、四探針方阻/電阻率測試儀、高溫電阻率測試系統(tǒng)、電壓降測試儀.3.流變儀和粘度計系列;4.熱分析儀器系列.

展開

產(chǎn)品說明

FT-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)

FT-351 high temperature four probe resistivity test system

一.概述:overview

采用四探針雙電組合測量方法測試方阻和電阻率系統(tǒng)與高溫箱結(jié)合配置專用的高溫四探針測試探針治具與PC軟件對數(shù)據(jù)的處理和測量控制,滿足半導體材料的電導率對溫度變化測量要求,的測控軟件實時繪制出溫度與電阻,電阻率,電導率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜,及過程數(shù)據(jù)值的報表分析.

Adopt four probe double electric combination test method to test square resistance and resistivity system . Combined with high temperature box for special high temperature four-point probe test probe jig with PC software for data processing and measurement control. Meet the test requirements of  the conductivity of the semiconductor material to temperature change. Advanced measurement and control software to Real-time render the change curve of  temperature and resistance, the resistivity, the electrical conductivity data,and process data values statement analysis.

FT-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)二.適用行業(yè):Applicable industry:

廣泛用于:企業(yè)、高等院校、科研部門對導電陶瓷、硅、鍺單晶(棒料、晶片)電阻率、測定硅外延層、擴散層和離子注入層的方塊電阻以及測量導電玻璃(ITO)和其它導電薄膜等新材料方塊電阻、電阻率和電導率數(shù)據(jù).

Is widely used in: Corporate. colleges and universities and scientific research departments of conductive ceramics. silicon. germanium single crystal (bar. wafer) resistivity. The determination of silicon epitaxial layer and diffusion layer and ion implantation of square resistance as well as the measurement of conductive glass (ITO) and other new materials such as conductive films square resistance and resistivity and conductivity data.

雙電測四探針儀是運用直線四探針雙位測量。設計符合單晶硅物理測試方法標準并參考美國 A.S.T.M 標準。

The double electric four-point probe is used to measure the four probes in a straight line.The design conforms to the national standard of the single-crystal silicon physical test method and the American A.S.T.M standard.

FT-351高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)
三.型號及技術參數(shù)Models and technical parameters:

規(guī)格型號Models

FT-351A

FT-351B

FT-351C

1.方塊電阻范圍sheet resistance

10-5~2×105Ω/□

10-6~2×105Ω/□

10-4~1×107Ω/□

2.電阻率范圍resistivity range

10-6~2×106Ω-cm

10-7~2×106Ω-cm

10-5~2×108Ω-cm

3.測試電流范圍test current range

0.1μA.μA.0μA,100μA,1mA,10mA,100 mA

1A、100mA、10mA、1mA、100uA、10uA、1uA、0.1uA

10mA ---200pA

4.電流精度current accuracy

±0.1%讀數(shù)

±0.1讀數(shù)

±2%

5.電阻精度resistance accuracy

≤0.3%

≤0.3%

≤10%

PC軟件界面

PC software interface

顯示:電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率

LCD: resistance.resistivity. sheet resistance.  temperature.unit conversion. temperature coefficient. current. voltage. probe shape. probe spacing. thickness

7.測試方式test mode

雙電測量Double electrical measurement

8.四探針儀工作電源working power

AC 220V±10%.50Hz  <30W


9.整機不確定性誤差/ machine uncertain errors

≤3%(標準樣片結(jié)果 standard samples)

≤15%

zui高溫度(選購)Highest temperature

(choose and buy)

常溫 Normal temperature -400℃;600℃;800℃;1000℃;1200℃;1400℃;1600℃

氣氛保護(氣體客戶自備)

Atmosphere protection(Gas was provided by customers themselves)

常用氣體如下:氦(He)、氖(Ne)、氬(Ar)、氪(Kr)、氙(Xe)、氡(Rn),均為無色、無臭、氣態(tài)的ink" target="_blank">單原子分子

The usual gases are: helium (He). neon (Ne). argon (Ar). krypton (Kr). xenon (Xe). and radon (Rn). all in colorless. odorless. gaseous monatomic molecules.

溫度精度

Temperature precision

沖溫值 Blunt temperature values:≤1-3℃;控溫精度 control precision:±1°C

升溫速度:

rate of temperature increase

常溫開始400℃--800℃需要15分鐘;800℃-1200℃需要30分鐘;1400℃-1600℃需要250分鐘—300分鐘

about 15 minutes at room temperature to 400 ℃. 800 ℃;800 ℃ to 1200 ℃ need 30 minutes;1400 ℃ to 1600 ℃ to 250 minutes. 300 minutes

高溫材料

High temperature material

采用復合陶瓷纖維材料,具有真空成型,高溫不掉粉的特征Adopt composite ceramic fiber material. have vacuum forming. high temperature not drop powder

PC軟件

PC software

專用測試PC軟件一套,USB通訊接口,軟件界面同步顯示、分析、保存和打印數(shù)據(jù)!One set Special test PC software. USB communication interface. software interface synchronization display. analysis. save and print data!

電材料

Electrode materials

鎢電或鉬電

Tungsten electrode or molybdenum electrode

探針間距

The probe spacing

直線型探針,探針中心間距:4mm;樣品要求大于13mm直徑Linear probe. probe center spacing: 4mm;Sample requirements are greater than 13mm diameter

標配外(選購):

Except standard configuration (optional)

電腦和打印機1套;2.標準電阻1-5個;

1 . One set computer and printer  2.Standard resistance 1 to 5pcs

配套方案:解決各材料狀態(tài) --固態(tài)、液態(tài)、氣態(tài)、顆粒狀電阻、電阻率、電導率測量


本頁產(chǎn)品地址:http://www.okbaiwei.com/sell/show-8240709.html
免責聲明:以上所展示的[FT-340 高溫四探針電阻率測試系統(tǒng)]信息由會員[寧波瑞柯微智能科技有限公司]自行提供,內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由發(fā)布會員負責。
[給覽網(wǎng)]對此不承擔任何責任。
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