*.北京單晶少子壽命測試儀 該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于 測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；*.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；*.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；*.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm； 余輝

北京富瑞恒創(chuàng)科技有限公司，成立于2009年8月，成立至今已經(jīng)和國內(nèi)多家知名教育機構(gòu)，全國各地多家企業(yè)有過長期的合作關(guān)系，專注于新型材料試驗機的研究，長期聘請清華大學精密儀器系的專家為技術(shù)顧問，并成立新型材料檢測儀器研發(fā)中心。
北京富瑞恒創(chuàng)科技有限公司是集專業(yè)設(shè)計、開發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè)，專注于新型材料試驗機的研制、材料檢測技術(shù)的提高及材料試驗方法的創(chuàng)新，是國內(nèi)領(lǐng)先的材料試驗檢測儀器的生產(chǎn)企業(yè)。
富瑞恒創(chuàng)儀器研發(fā)部擁有行業(yè)內(nèi)最優(yōu)秀的、權(quán)威的研發(fā)力量及技術(shù)團隊，長期聘請清華大學精密儀器系的專家為技術(shù)顧問，并成立新型材料檢測儀器研發(fā)中心，是對推動國內(nèi)材料檢測技術(shù)的提高和試驗方法創(chuàng)新的重要技術(shù)保證力量。富瑞恒創(chuàng)同時還與中科院自動化研究所、國防科技大學等全國數(shù)十所科研院所開展緊密合作，并為中國國防軍工企業(yè)及航天科技企業(yè)和重點實驗室定制生產(chǎn)了大量標準和非標準的專用測試儀器。
富瑞恒創(chuàng)以精美的產(chǎn)品、精湛的技術(shù)、精良的品質(zhì)、精心的服務(wù)贏得了廣大用戶和市場份額，產(chǎn)品暢銷全國，擁有一大批國內(nèi)外著名科研院所及企業(yè)用戶，是國內(nèi)試驗機行業(yè)發(fā)展速度最快的企業(yè)之一。

北京單晶少子壽命測試儀

型號：SN/LT-3

*.北京單晶少子壽命測試儀該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于   測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；
*.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；
*.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；
*.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
*.前置放大器：放大倍數(shù)約25；
*.北京單晶少子壽命測試儀測量方式：采用對標準曲線讀數(shù)方式；*.該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于   測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；
*.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；
*.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；
*.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
*.前置放大器：放大倍數(shù)約25；
*.測量方式：采用對標準曲線讀數(shù)方式；*.該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于   測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；
*.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；
*.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；
*.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
*.前置放大器：放大倍數(shù)約25；
*.測量方式：采用對標準曲線讀數(shù)方式；*.該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于   測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；
*.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；
*.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；
*.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
*.前置放大器：放大倍數(shù)約25；
*.測量方式：采用對標準曲線讀數(shù)方式；*.該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于   測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；
*.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；
*.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；
*.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
*.前置放大器：放大倍數(shù)約25；
*.測量方式：采用對標準曲線讀數(shù)方式；*.該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于   測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；
*.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；
*.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；
*.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
*.前置放大器：放大倍數(shù)約25；
*.測量方式：采用對標準曲線讀數(shù)方式；*.該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于   測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；
*.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；
*.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；
*.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
*.前置放大器：放大倍數(shù)約25；
*.測量方式：采用對標準曲線讀數(shù)方式；*.該儀器參考美國 A.S.T.M 標準而設(shè)計的用于   測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命；
*.測試單晶電阻率范圍： >0.3Ω.cm；
*.可測單晶少子壽命范圍： 1μS-10000μS；
*.配備光源類型：紅外光源，波長：1.09μm；
余輝<1 μS；閃光頻率為：20-30次／秒；
*.前置放大器：放大倍數(shù)約25；
*.測量方式：采用對標準曲線讀數(shù)方式；

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