PL1是一種操作簡便高度集成的激光共焦掃描熒光成像設備，能zei大限度的為客戶提供穩定的使用時間，便捷的測試能力。PL1提供高靈敏度檢測能力，是一種理想的材料科學單分子測量儀器，易于操作。

北京培科創新技術有限公司是一家專注于科學研究及工業應用的儀器渠道商和系統解決方案提供商，我們為高校、科研院所、企業等各類客戶提供全面的儀器設備解決方案。公司成立于2012年，總部設在北京，在上海、深圳、沈陽等地設有多個辦事處。 培科創新，與多家世界知名儀器制造商建立了良好的戰略合作關系，不斷優化提升的公司自身營運和服務質量，致力于向用戶提供的產品、zui優化的解決方案和高品質的專業服務，承擔著科技產業助推器的責任，服務并推動科學研究和科技產業的發展。 培科創新，秉承高度負責和誠信的原則展開業務，努力營造員工和客戶之間互相尊重、坦誠溝通、高效互動的健康環境。我們了解客戶的實際需求，并提供合理優質的解決方案，并盡力滿足客戶的近期和長期需求。培科在客戶的關注和員工們的努力中不斷進步，擁有遍布全國的營銷渠道和服務網絡、職業化的技術服務團隊。

特點

-300nm-1050nm范圍內具有單分子級檢測能力。

-寬范圍時間壽命測量能力：標準100ps-100ms，頻域技術可低至10皮秒

-熒光強度和壽命成像可同時獲得（空間分辨率可達衍射限低至250nm）

-光學切面3D掃描，分辨率低至50nm

-掃描大樣品區域可至100×100mm

-集成軟件（64bit），具有系統控制，數據采集和分析能力

-集成設計，具有靈活定制化能力，滿足客戶不同研究領域的靈活配置，提升研究效率

應用

-材料科學研究

-半導體材料表征

-太陽能電池材料

-晶體材料

-其他光致發光材料

PL1創新性設計

PL1是一種操作簡便高度集成的激光共焦掃描熒光成像設備，能zei大限度的為客戶提供穩定的使用時間，便捷的測試能力。PL1提供高靈敏度檢測能力，是一種理想的材料科學單分子測量儀器，易于操作。

常規測量能力

• 強度和熒光壽命成像

-光致發光共焦強度成像

-光致發光共焦壽命成像，XYZ和T多維度，具有掃描和單點模式

• FFS熒光變動光譜

-熒光相關光譜（FCS)

-光子計數直方圖（PCH）

-熒光壽命相關光譜（FLCS）

• 單分子成像

-Burst分析

-單分子FRET熒光共振能量轉移分析

應用案例

量子點

Figure 1Phasor plots相量圖可區分基體涂層量子點熒光壽命種類，直接從原始數據獲得。激發波長470nm，發射波長499-632nm（熒光），475/35nm（反射），掃描區域17.5μm×17.5μm。（Courtesy of Wenjie Liu and Dr.Yaowu Hu;Purdue University;West Lafayette，IN;USA)

鈣鈦礦表征

Figure 2鈣鈦礦高空間分辨率共焦熒光壽命成像及光致發光（熒光）強度。ISS VistaVisiontion提供zei小化數據擬合算法和相矢量圖壽命分析；如，使用多圖相圖常規分析方法，不同鈣鈦礦樣品的熒光壽命可以通過鑒定原始數據相矢量圖立即獲取（無需數據擬合），使得熒光壽命分析更簡便和準確。激發波長488nm；發射光譜通過635nm長通濾波器；掃描區域：20μm×20μm。

納米粒子熒光上轉換

Figure 3上轉換納米粒子共焦壽命成像，包含高空間分辨率光致發光強度和壽命。激發波長980nm，發射波長509-552nm。掃描區域20μm×20μm

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