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價格：電議
所在地：北京
型號：A&S SpectraVision
更新時間：2021-06-30
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公司地址：北京市海淀區上地信息路26號
王經理(先生)
SpectraVision是一套整合了研究級正立智能全自動金相顯微鏡與光譜技術的全新微區光譜分析儀。該微區光譜分析儀通過zei大化利用光學顯微鏡的精度和提供zei優價值的光譜學信息而激發了潛能，從而重新定義了定量反射顯微鏡在眾多應用領域的新標準。無論您是從事于司法鑒定過程中纖維、油漆、涂層的深紫外顯微分析和色彩分析，亦或是地質學研究中的煤炭、油母巖質等的鏡質體反射率、分散有機質或煤質素分析，再或是工業領域中的質量監控、層厚、色彩行為，以及生命科學中定量化真正色彩的分析，SpectraVision均可為您帶來zei佳的應用體驗：
技術原理
整合全自動金相顯微鏡與光譜技術進行定量顯微光譜測量。
主要特點
? 整合全自動金相顯微鏡與光譜分析技術
? 具有CCD或PMT陣列探測器模塊可選
? 具有可選的模擬或數字影像系統
? 具有強大的SpectraVision控制和分析軟件
性能指標
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CCD陣列 |
220nm~1000nm，珀爾帖制冷，暗視野和熒光顯微下低信號檢測 |
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光電二管陣列 |
195nm~2200nm，光照條件好的低噪音測量 |
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光電倍增管模塊 |
直接安裝或光纖耦合，可增加珀爾帖制冷或光子計數器 |
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模擬或數字影像系統 |
二維定量和三維觀察整合圖像分析軟件 |
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深UV-NIR光照激發單元 |
具有能的雙氘燈和鹵鎢燈復合光源 |
SpectraVision軟件功能
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基本 |
具有系統設置、數據獲取和輸出、可視化等功能 |
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控制 |
具有專業的工作流，能整合顯微鏡和外圍設備 |
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直方圖 |
具有直方圖，偏振動力學和測量zei大zei小強度分析功能 |
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色度分析 |
色彩分析，符合CIELad標準 |
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層厚 |
具有層厚分析算法，用于透明層層厚和涂層評估 |
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成像 |
提供顯微測密計算工具和預報功能 |
詳情請咨詢：/
免責聲明：以上所展示的[A&S SpectraVision 全光譜顯微分光光度計]信息由會員[北京培科創新技術有限公司]自行提供，內容的真實性、準確性和合法性由發布會員負責。
