美國博曼XRF鍍層測厚儀A 系列微型 XRF 專為精確測量半導體和微電子領域中最小的 X 射線特征而設計。

深圳市鼎極天電子有限公司 位于深圳寶安, 主要經銷的分析儀器與設備.

我司是美國博曼 (Bowman) 測厚儀中國華南區總經銷，擁有專業的銷售及維修工程師，專注于BA-100系列測厚儀在國內的銷售與維護。為各地的電路板（PCB、FPC）、LED、SMD、半導體、連接器、端子、緊固件、汽車、五金等制造廠商及高校，科研機構，質量檢測中心等廣大客戶提供快捷、良好的售前及售后服務和技術支持。

實驗室測試設備:各種實驗室測試設備,我們配套供應.
如有任何需要請聯絡我公司，我們將為你提供快速優質的服務。

半導體、連接器、PCB 上的極小特征
大型PCB面板
任何尺寸的晶圓
每秒處理超過 2 萬個計數的能力
可編程 XY 平臺，每個方向移動 23.6 英寸
3D 映射能力
美國博曼XRF鍍層測厚儀符合 IPC-4552 A/B、4553A、4554 和 4556、ASTM B568、DIN 50987 和 ISO 3497
潔凈室就緒

Bowman 的 A 系列使用多毛細管光學器件將 X 射線束聚焦到 7.5 μm FWHM，這是使用 XRF 儀器進行涂層厚度分析的世界上最小的。 140X 放大相機用于測量該比例的特征； 它配有一個輔助低放大倍率相機，用于實時查看樣品和鳥瞰宏觀視圖成像。 Bowman 的雙攝像頭系統讓操作員可以看到整個零件，單擊圖像以使用高倍率攝像頭進行縮放，并精確定位要編程和測量的特征。可編程 XY 平臺在每個方向上移動 23.6 英寸（600 毫米），可以處理
業內最大的樣本。 該平臺的每個軸的精度小于 +/- 1 μm，并且是
用于選擇和測量多個點； Bowman 模式識別軟件和自動對焦
功能也會自動執行此操作。 該系統的內置模式識別可用于查看零件（例如硅晶片）上涂層的形貌。


美國博曼XRF鍍層測厚儀產品規格
機型對比
元素測量范圍： 13號鋁元素 到 92號鈾元素
X射線管： 50 W Mo 目標 Flex-Beam 毛細管光學元件 @7.5 FWHM 可選：Cr 或 W
探測器： 優于135eV分辨率的大窗口硅漂移探測器
分析層數
及元素數： 5 層（4 層 + 基礎），每層 10 個元素。 同時分析多達 25 種元素的成分
濾波器/準直器： 4位置一次濾波器
焦距： 固定為0.02英寸（0.5毫米）
數字脈沖處理： 具有靈活整形時間的 4096 CH 數字多通道分析儀。 自動信號處理，包括死區時間校正和逃逸峰校正
計算機： Intel，CORE i5 第 9 代處理器 (4.1 GHz)，16GB RAM，Microsoft Windows 10 Prof，64 位
相機： 1/4″ CMOS-1280×720 VGA分辨率
視頻放大倍率： 140X Micro & 7X Digital Zoom: 9X Macro & Table View
電源： 720W，100?240V; 頻率范圍為47Hz到63Hz
重量： 1000kg（2200磅）
工作環境： 溫度介于68°F（20°C）與77°F（25°C）之間，相對濕度小于98％，無冷凝
可編程XYZ平臺： XYZ行程：600毫米（23.6英寸）x 600毫米（23.6英寸）x 100毫米（3.9英寸）
XY桌面：560mm（22“）x 585mm（23”）
X & Y 軸精度：1um (40u”)
Z軸精度：1um (40u”)
樣品倉尺寸： 寬度：1400 毫米（55 英寸），深度：1470 毫米（58 英寸），高度：100 毫米（4 英寸）
外形尺寸： 寬度：1470 毫米（58 英寸），深度：1575 毫米（62 英寸），高度：1780 毫米（70 英寸）
其他新特征： Z 保護陣列、自動對焦、聚焦激光、圖案識別、Semi S2 S8 兼容就緒





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