BMDZ-4型PVDF薄膜電阻測試儀是運用環形三電極法原理測量固體片狀、薄膜狀或液體類導靜電材料、絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的多用途綜合測量裝置，也可作為超高阻計或微電流測試儀使用。不僅可測試薄膜體電阻，而且可以測試薄膜的表面電阻，是壓電材料薄膜測試參數的重要設備,是國內高校研究PVDF薄膜材料的重要設備，也

北京精科智創科技發展有限公司是一家主要是從事精密儀器設備，我們同中國科學院，北京科技大學，清華大學，上海交通大學，北京航空航天大學等建立了合作和研究中心，目前我們主要在安全控制設備，計量檢測設備，科學材料研究設備，3D打印及空間技術的研發和銷售，我們將同國內的科研機構和高等院校進行更加廣泛的合作，服務于國內和國外廣大客戶，我們將提供優質產品，優質服務，共同開拓進取。

我們為你提供材料表征測量的一系列產品：

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一表征：壓電材料d33測量儀
1、ZJ-3型壓電測量儀

2、ZJ-4型d33測量儀

3、ZJ-5型積層壓電測試儀

4、ZJ-6型靜壓電d33/d31/d15測量儀

5、ZJ-7型高溫壓電測試儀

★壓電極化裝置

1、PZT-JH10/4壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時極化1-4片）

2、PZT-JH10/8壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片）

3、PZT-JH20/8高壓電極化裝置（20KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片）

4、PZT-FJH20  /3高壓真空，空氣極化裝置（20KV以下壓電陶瓷及壓電薄膜1-3片試樣）

★ 壓電制樣裝置

1、ZJ-D33-YP15壓電陶瓷壓片機（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30電動型壓電陶瓷壓片機（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）

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第二表征 鐵電材料測量系統及電滯回線測量系統

1、ZT-4C型綜合鐵電測量系統

2、JKZT-10A鐵電材料綜合參數測試儀

3、JKGT-G300高溫鐵電材料測量系統

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第三表征 熱電材料分析測量系統及塞貝克系數測試儀

1、BKTEM-Dx熱電性能分析系統

2、BKTEM-Dx熱電器件性能分析系統

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第四表征 介電材料測試系統

1、 常溫介電測量系統，常溫介電材料測試儀

2、 高溫介電測量系統，高溫介電材料測試裝置

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第四表征磁性材料測試系統

關鍵詞：PVDF，薄膜，電阻，表面電阻，體電阻

BMDZ-4型PVDF薄膜電阻測試儀是運用環形三電極法原理測量固體片狀、薄膜狀或液體類導靜電材料、絕緣材料體積電阻率和表面電阻率的多用途綜合測量裝置，也可作為超高阻計或微電流測試儀使用。不僅可測試薄膜體電阻，而且可以測試薄膜的表面電阻，是壓電材料薄膜測試參數的重要設備,是國內高校研究PVDF薄膜材料的重要設備，也是材料學院的重要研究設備之一。

一、符合國家標準:

GB/T 3389-2008 壓電陶瓷材料性能測試方法

 GB/T 1410－2006/IEC 60093:1980：《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》。二、 產品用途：

1、PVDF薄膜材料表面電阻及體電阻

2、壓電陶瓷材料表面電阻及體電阻

3、PVDF薄膜材料表面的微電流測試

                        

三、主要特點：

1、數字化操作，參數自由設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸出，操作簡便、性能穩定。

2、自動化測試過程，電壓、電流量程轉換，全部數字化轉換。

3、多窗口顯示體積電阻率、表面電阻測試結果，電壓、測試電流測試條件，以及設定修正系數，內容全面。

4、測試安全保護，測試高壓獨立操作開關，測試電流過流保護。

5、便于功能拓展，選配薄膜測試探頭，可以測試高阻薄膜，選配夾具可以當高阻計和微電流表使用。也可測試高阻液態電阻率。

三、測量范圍

電阻范圍：  1.0×10^2～ 2.0×10^14 Ω,     

分辨率0.01×10^3～ 0.01×10^14 Ω

電阻率范圍：  Kv×( 1.0×10^2～ 2.0×10^14) Ω-cm,  

分辨率0.01×10^3～ 0.01×10^14 Ω-m， K=1～1000，修正系數）

精度：±0.01

選配：可以配合ZJ-3/6型PVDF壓電測試儀進行薄膜D33系數測試

工作電源：220V±10％, f=50Hz±4％,PW≤20W

外形尺寸： W×H×L=40cm×15cm×35cm

重量：≤4kg

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