31W一米平面光柵攝譜儀利用平面反射式光柵分光研究物質(zhì)的成份和含量，主要用于金屬合金（包括礦物礦井石）的日常定性量分析，純金屬和材料的雜質(zhì)鑒定，與各種附件配合，用作激光微區(qū)分析、記錄閃光和弱光現(xiàn)象...

31W一米平面光柵攝譜儀

一．用途：
31W一米平面光柵攝譜儀是本公司生產(chǎn)的經(jīng)典產(chǎn)品。本儀器利用平面反射式光柵分光研究物質(zhì)的成份和含量，主要用于金屬合金（包括礦物礦井石）的日常定性量分析，純金屬和材料的雜質(zhì)鑒定，與各種附件配合，用作激光微區(qū)分析、記錄閃光和弱光現(xiàn)象。
二.儀器特點(diǎn)：
1．光學(xué)系統(tǒng)采用艾伯特垂直對稱形式裝置，彗差及象散可矯正到理想程度，在較長譜面范圍內(nèi)譜線清晰，結(jié)構(gòu)均勻，靈敏度高。
2．儀器采用三透鏡消色差照明方法，狹縫得到均勻照明，使同一條譜線黑度均勻。
3．儀器縫前的哈特曼光欄及三階，九價減光板。
4．適用控制箱控制譜過程。
5．儀器配備直流電弧，交流電弧光源，以適應(yīng)不同分析任務(wù)的需要。
6．儀器配置工作臺，安裝和操作方便。
7．在預(yù)處理階段的鐵樣品的標(biāo)準(zhǔn)波長處譜線清新。
8．中心波長顯示實(shí)現(xiàn)UI界面與人機(jī)互動。
9．采用高精密度的絲桿和光柵調(diào)節(jié)中心波長。
10．儀器采用全數(shù)字控制，可以實(shí)現(xiàn)相板移動自動化。
11．儀器實(shí)現(xiàn)全數(shù)顯化，可直接顯示預(yù)燃、曝光、板移的時間和中心波長。

三．規(guī)格：
工作波段： 200nm～850nm
攝譜儀焦距： F=1050mm
相對孔徑： A=1:22
狹縫主要技術(shù)指標(biāo)： 寬度范圍0.002～0.3mm；寬度分度值0.001mm
有效高度10㎜寬度再現(xiàn)性0.001mm
波長顯示： 計數(shù)器(nm)
光柵： 1200條/mm光柵1塊
外形尺寸： 長×寬×高1300×1500（包括導(dǎo)軌在內(nèi)）×600mm
重量： 100kg
工作電源： 380V 50Hz 20A； 220V 50Hz 20A

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