自公司成立以來我們不斷精益求精，創造出符合國際規范、行業規范的產品。從產品研發到售后服務，每一個環節都以客戶的觀點與需求作為思考的出發點，并以先進的加工設備，精湛的生產工藝，嚴格的管理體系，雄厚的技術實力和良好的品牌價值贏得許多國內外廠商的信賴與支持，經過多年的努力，維創興公司秉持“用心合作、科技服務、以質共贏”的經營理念，憑借著雄厚的公司實力、強大的技術力量，完善的品質體系和優秀的服務成為了英國牛津，英國milum，電子科大奧特為的華南區的優秀合作伙伴。

牛津儀器1959年創建于英國牛津，是英國倫敦證交所的上市公司，生產分析儀器、半導體設備、超導磁體、超低溫設備等高技術產品。在五十多年的高速發展過程中，牛津儀器公司憑借自身的科研優勢，以超前的技術、出色的管理和獨樹一幟的產品和服務為全球的科技發展作出了巨大的貢獻。牛津儀器現已成為世界著名的科學儀器領域的跨國集團公司，擁有分布于英國、美國、芬蘭、德國和中國的十幾個工廠、數十個分公司和辦事處分，業務遍及全球一百多個國家和地區。

牛津儀器始終關注和支持著中國的發展，其產品于40年前就進入了中國市場，與中國的科研、教育和工業界的合作卓有成效。牛津儀器在上海有銷售、生產、研發和全國售后服務中心 ，同時在北京、廣州和成都設有辦事處，為廣大中國用戶提供及時、有效的服務。

產品名稱：X熒光鍍層測厚儀波譜校正片

產品型號：X熒光鍍層測厚儀CMI900，CMI920波譜校正片，測厚儀校正片，膜厚儀校正片

X-熒光鍍層測厚儀CMI900 / 920金屬鍍層厚度的測量

CMI 900 / 920 系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析.基于Windows2000中文視窗系統的中文版 Smartlink FP 應用軟件包，實現了對CMI900/920主機的自動化控制。

技術參數：      

CMI 900 X-射線熒光鍍層厚度測量儀,在技術上一直以來都測厚行業

A  CMI 900 能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體,薄的浸液鍍層

（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定多5層、15 種元素。

B ：度于行業 ：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求。如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。

D ：統計功能提供數據平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL(控制上限)、LCL(控制下限)、CpK圖、直方圖、X-bar/R圖等多種數據分析模式。
CMI900/920系列X射線熒光測厚儀能夠測量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；

E ：可測量任一測量點，zui小可達0.025 x 0.051毫米

樣品臺選擇：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
 一：手動樣品臺
1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 
2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 
3 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。 

二：自動樣品臺

1   程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 
2   超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。 

CMI920系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規格的樣品。如右下圖所示。同樣，CMI950可提供四種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
1   全程控樣品臺：XYZ 三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品zui大高度為150mm，XY 軸程控移動范圍為       300mm x 300mm。 此樣品臺可實現測定點自動編程控制。 
2   Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品zui大高度為270mm。

3        全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品zui大高度為356mm。 
可擴展式樣品臺用于接納尺寸樣品。 

CMI900/920主要技術規格如下：

主要規格                           規格描述
 
X射線激發系統                   垂直上照式X射線光學系統
 
                                       空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
 
                                       標準靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
 
                                       功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標準

                                        75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
 
                                       裝備有安全防射線光閘
 
                                       二次X射線濾光片：3個位置程控交換，多種材質、多種厚度的二次濾光

片任選
 
準直器程控交換系統            多可同時裝配6種規格的準直器
 
                                       多種規格尺寸準直器任選：

                                       －圓形，如4、6、8、12、20 mil等

                                       －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測量斑點尺寸                     在12.7mm聚焦距離時，zui小測量斑點尺寸為：0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準直器)
 
在12.7mm聚焦距離時，zui大測量斑點尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準直器)
 
樣品室

－樣品室結構                      開槽式樣品室
 
－zui大樣品臺尺寸                610mm x 610mm
 
－XY軸程控移動范圍            標準：152.4 x 177.8mm
                                       還有5種規格任選
 
－Z軸程控移動高度               43.18mm
 
－XYZ三軸控制方式              多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動控制和Z軸程序控制、

XYZ三軸手動控制
 
－樣品觀察系統                高分辨彩色CCD觀察系統，標準放大倍數為30倍。（50倍和100倍觀

察系統任選。） 

                                    激光自動對焦功能

                                         可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
 
計算機系統配置                    IBM計算機

                                         惠普或愛普生或佳能彩色噴墨打印機
 
分析應用軟件                       操作系統：WindowsXP(OEM)中文平臺

分析軟件包：                       Smartlink FP軟件包
 
－測厚范圍                          可測定厚度范圍：取決于您的具體應用。
 
－基本分析功能                   采用基本參數法校正。牛津儀器將根據您的應用提供必要的校正用標準樣

品。
 
樣品種類：                          鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
 
                                         可檢測元素范圍：Ti22 – U92
 
                                         可同時測定5層/15種元素/共存元素校正
 
                                         貴金屬檢測，如Au karat評價
 
                                         材料和合金元素分析，
 
                                         材料鑒別和分類檢測
 
                                         液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
 
                                         多達4個樣品的光譜同時顯示和比較
 
                                         元素光譜定性分析
 
－調整和校正功能                 系統自動調整和校正功能，自動消除系統漂移
 
－測量自動化功能                 鼠標激活測量模式：“Point and Shoot”
 
                                         多點自動測量模式：隨機模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復測

量模式
 
                                         測量位置預覽功能
 
                                         激光對焦和自動對焦功能
 
－樣品臺程控功能                  設定測量點
 
                                         連續多點測量
 
                                         測量位置預覽
 
－統計計算功能                    平均值、標準偏差、相對標準偏差、zui大值、zui小值、數據變動范圍、

                                         數據編號、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
 
                                         數據分組、X-bar/R圖表、直方圖
 
                                         數據庫存儲功能
 
                                         任選軟件：統計報告編輯器允許用戶自定義多媒體報告書
 
－系統安全監測功能              Z軸保護傳感器
 
                                        樣品室門開閉傳感器