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AE-100M 白光干涉儀

廣東萬濠精密儀器股份有限公司銷售
會員指數(shù): 企業(yè)認證:

價格:電議

所在地:廣東 東莞市

型號:AE-100M

更新時間:2016-08-24

瀏覽次數(shù):1424

公司地址:

陳義隆 (先生)  

產(chǎn)品簡介

廣東AE-100M白光干涉儀價格廠家直銷結(jié)合光學(xué)顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡,結(jié)合顯微物鏡與干涉儀、不需要復(fù)雜光調(diào)整程序,兼顧體積小、納米分辨率、易學(xué)易用等優(yōu)點,可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量,適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測。應(yīng)用領(lǐng)域包含產(chǎn)品特點

公司簡介

     廣東萬濠精密儀器有限公司座落于全國鄉(xiāng)鎮(zhèn)企業(yè)之星——東莞市長安鎮(zhèn)。萬濠公司成立于1996年,是一家專門從事光、機、電一體化的精密光學(xué)檢測儀器產(chǎn)品研究開發(fā)、生產(chǎn)和銷售的高新技術(shù)企業(yè),是廣東省高新技術(shù)企業(yè),廣東省民營科技企業(yè),東莞市民營科技創(chuàng)新先進企業(yè),獲得廣東省著名商標認證,數(shù)字式投影儀等獲得廣東名牌產(chǎn)品稱號。 公司通過ISO9001:2008版本質(zhì)量體系認證,主要產(chǎn)品均已通過CE認證,輪廓投影儀、影像儀、光柵尺等采用了國際標準。公司擁有自主知識產(chǎn)權(quán),已獲得多項專利和軟件登記著作權(quán)。產(chǎn)品除供應(yīng)國內(nèi)以外,還出口歐洲、美洲、臺灣等亞洲地區(qū)。產(chǎn)品優(yōu)異的性價格比與周到的售后服務(wù),為公司樹立了良好的品牌形象,贏得了中外客戶的廣泛認可。
展開

產(chǎn)品說明

 廣東AE-100M白光干涉儀價格廠家直銷

產(chǎn)品用途
     結(jié)合光學(xué)顯微鏡與白光干涉儀功能的掃描式白光干涉顯微鏡,結(jié)合顯微物鏡與干涉儀、不需要復(fù)雜光調(diào)整程序,兼顧體積小、納米分辨率、易學(xué)易用等優(yōu)點,可提供垂直掃描高度達400um的微三維測量,適合各種材料與微組件表面特征和微尺寸檢測。應(yīng)用領(lǐng)域包含
產(chǎn)品特點
● 納米深度3D檢測
● 高速/無接觸量
● 表面形狀/粗糙度分析
● 非透明/透明材質(zhì)皆適用
● 非電子束/非鐳射的安全量測
● 低維護成本
專業(yè)級的3D圖形處理與分析軟體(Post Topo)
●  提供多功能又具親和接口的3D圖形處理與分析
●  提供自動表面平整化處理功能
●  提供高階標準片的軟件自校功能
●  深度/高度分析功能提供線型分析與區(qū)域分析等兩種方式
●  線型分析方式提供直接追溯ISO定義的表面粗糙度(Rorghness)與起伏度
●  (waviness)的測量分析。可提供多達17種的ISO量測參數(shù)與4種額外量測數(shù)據(jù)(Wafer)
●  區(qū)域分析方式提供圖形分析與統(tǒng)計分析。
●  具有平滑化、銳化與數(shù)字過濾波等多種二維快速利葉轉(zhuǎn)換(FFT)處理功能。
●  量測分析結(jié)果以BMP等多種圖形檔案格式輸出或是Excel文本文件格式輸出
高速的干涉解體軟體(ImaScan)
● 系統(tǒng)硬件搭配ImgScan前處理軟件自動解析白光干涉條紋
● 垂直高度可達0.1nm
● 高度的分析算法則,讓你不在苦候測量結(jié)果
● 垂直掃描范圍的設(shè)定輕松又容易
● 有10、20、50倍率的物鏡可供選擇
● 平臺XYZ位置數(shù)顯示,使檢標的尋找快速又便利
● 具有手動/自動光強度調(diào)整功能以取得的干涉條紋對比。
● 具有的PVSI與高速VSI掃描測量模式供選擇。
● 具有的解析算法則可處理半透明物體的3D形貌。
● 具有自動布補點功能
● 可自行設(shè)定掃描方向

技術(shù)規(guī)格參數(shù)
型號 AE-100M
移動臺(mm) 平臺尺寸100*100 ,行程13*13
物鏡放大倍率 10 20 50
觀察與量測范圍 0.43*0.32 0.21*0.16 0.088*0.066
光學(xué)分辨力(um) 0.9 0.69 0.5
收光角度(Degrees) 17 23 33
工作距離 7.4 4.7 3.4
傳感器分辨率 640*480像素
機臺重量(kg)/載重kg 20kg/小于1kg
Z軸移動范圍 45mm , 手動細調(diào)
Z軸位置數(shù)字顯示器 分辨率1um
傾斜調(diào)整平臺 雙軸/手動調(diào)整
  高度測量
測量范圍 100(um)(400um ,選配)
量測分辨力 0.1mm
重復(fù)精度 ≤ 0.1% (量測高度:>10um)
≤10um(量測高度1um 10um)
≤ 5nm(量測高度:<1um )
量測控制 自動
掃描速度(um/s) 12(zui高)
  光源
光源類型 儀器用鹵素(冷)光源
平均使用壽命 1000小時100W 500小時(150W)
光強度調(diào)整 自動/手動
  數(shù)據(jù)處理與顯示用計算器
中央處理運算屏幕 雙核心以上CUP
影像與數(shù)據(jù)顯示屏幕 17 " 雙晶屏幕
操作系統(tǒng) Windows XP(2)
電源與環(huán)境要求 AC100 --240 V 50-60Hz
環(huán)境震動 VC-C等級以上
  量測與分析軟件
測量軟件 ImScan測量軟件
具VSI/ PVS/PSI 測量模式(PSI量測模式需另選配PSI模塊搭配)
PosTopo 分析軟件
分析軟件 ISO 粗燥度/階高分析,快速傳利業(yè)轉(zhuǎn)換和濾波,多樣的2D和3D
觀測視角圓,外形/面積/體積分析,圓像縮放、標準影像文件格式轉(zhuǎn)換
報表輸出,程序教導(dǎo)量測等。

本頁產(chǎn)品地址:http://www.okbaiwei.com/sell/show-6370406.html
免責(zé)聲明:以上所展示的[AE-100M 白光干涉儀]信息由會員[廣東萬濠精密儀器股份有限公司銷售]自行提供,內(nèi)容的真實性、準確性和合法性由發(fā)布會員負責(zé)。
[給覽網(wǎng)]對此不承擔(dān)任何責(zé)任。
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