可以進行連續測量的光譜分析儀愛德萬Q8344A ●連續測量 ●1.5秒/掃描的高速測量 ●0.35|m到1.75|m的寬波長范圍 ●0.1nm的波長測量精度 Q8344A光譜分析儀

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 Q8344A是具有0.35到1.75¦m的寬波長范圍的光譜分析儀。在傅立葉光譜系統中,邁克爾遜干涉儀的應用使單色器的離散光譜系統所不能進行的連續分析成為可能。它顯示了評估CD和視頻光盤的激光二管的能力。作為參考波長的內置HE-NE激光器可以識別¡0.1nm(1.3nm) 的波長精度甚至在不經過波長校準的情況下也可以保證長期的測量穩定性。 Q8344A提供了zui大0.05nm(在0.85¦m)的波長分辨率適合于測量窄模式間隔的激光二管。不論分析的跨度多少測量速度進約為1.5秒在0.4¦m到1.05¦m和0.8¦m到1.75¦m使它可以作為系統一部分。 Q8344A具有的顯示、分析和處理功能它可以對諸如激光二管和LED之類的光發射元件以及光纖和濾波器光元件進行特性測量。連續測量由于Q8344A使用了邁克爾遜干涉儀它可以進行連續測量。這項功能使它可以輕松地對視頻光盤的激光二管的回光所引起的噪聲抑制進行評估分析范圍大約為¡10mm。 1.5秒/掃描的高速測量 Q8344A采用傅立葉頻譜系統因而對任何的測量跨度和靈敏度都可以在1.5秒內完成測量。(提供起始波長是0.4¦m或更長并且測量不能同時覆蓋短的波長和長波長)。因此分析儀適合于測量生產線上的激光二管和LED并且可以評估光纖和濾波器的傳輸和損耗的特征。當作為系統組成部分時分析儀只需要1.5秒就可以完成觸發測量和數據輸出。 0.05nm的zui大波長范圍在短波長(0.85¦m)時Q8344A提供0.05nm的zui大分辨率使它可以以全分解振蕩模式依次對CD和可視光激光二管進行測量。大量規光纖輸出選件 200¦m大量輸出可以作為選件使用。當分析波長大于標準光纖量規(GI50¦m)的裝置時可選用此選件。對激光二管分析推薦標準50-¦m規格對LED分析推薦選用規格。
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