JZKC-ZK004C（貨號）低頻阻抗分析儀，阻抗分析儀，阻抗分析儀 阻抗分析主機 材料分析夾具及分析軟件 關鍵詞：阻抗分析,壓電陶瓷，JZKC-ZK004C（貨號）低頻阻抗分析儀是臺符合LXI標準的新一代阻抗測試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料大部分低壓參數的測量要求，可廣泛應

北京精科智創科技發展有限公司是一家主要是從事精密儀器設備，我們同中國科學院，北京科技大學，清華大學，上海交通大學，北京航空航天大學等建立了合作和研究中心，目前我們主要在安全控制設備，計量檢測設備，科學材料研究設備，3D打印及空間技術的研發和銷售，我們將同國內的科研機構和高等院校進行更加廣泛的合作，服務于國內和國外廣大客戶，我們將提供優質產品，優質服務，共同開拓進取。

我們為你提供材料表征測量的一系列產品：

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一表征：壓電材料d33測量儀
1、ZJ-3型壓電測量儀

2、ZJ-4型d33測量儀

3、ZJ-5型積層壓電測試儀

4、ZJ-6型靜壓電d33/d31/d15測量儀

5、ZJ-7型高溫壓電測試儀

★壓電極化裝置

1、PZT-JH10/4壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時極化1-4片）

2、PZT-JH10/8壓電極化裝置（10KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片）

3、PZT-JH20/8高壓電極化裝置（20KV以下壓電陶瓷同時極化1-8片）

4、PZT-FJH20  /3高壓真空，空氣極化裝置（20KV以下壓電陶瓷及壓電薄膜1-3片試樣）

★ 壓電制樣裝置

1、ZJ-D33-YP15壓電陶瓷壓片機（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T2

2、ZJ-D33-SYP30電動型壓電陶瓷壓片機（壓力范圍: 0--15T，0-24T，0-30T，0-40T）

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第二表征 鐵電材料測量系統及電滯回線測量系統

1、ZT-4C型綜合鐵電測量系統

2、JKZT-10A鐵電材料綜合參數測試儀

3、JKGT-G300高溫鐵電材料測量系統

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第三表征 熱電材料分析測量系統及塞貝克系數測試儀

1、BKTEM-Dx熱電性能分析系統

2、BKTEM-Dx熱電器件性能分析系統

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第四表征 介電材料測試系統

1、 常溫介電測量系統，常溫介電材料測試儀

2、 高溫介電測量系統，高溫介電材料測試裝置

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第四表征磁性材料測試系統

JZKC-ZK004C（貨號）低頻阻抗分析儀，阻抗分析儀，阻抗分析儀

阻抗分析主機

材料分析夾具及分析軟件

關鍵詞：阻抗分析,壓電陶瓷，
JZKC-ZK004C（貨號）低頻阻抗分析儀是臺符合LXI標準的新一代阻抗測試儀器，其0.1%的基本精度、20Hz～5MHz的頻率范圍可以滿足元件與材料大部分低壓參數的測量要求，可廣泛應用于諸如傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二管、變壓器等進行諸多電氣性能的分析及低ESR電容器和高Q電感器的測量。
JZKC-ZK004C（貨號）阻抗分析儀產品超高速的測試速度使其特別適用于自動生產線的點檢機，壓電器件的頻率響應曲線分析等等。其多種輸出阻抗模式可以適應各個電感變壓器廠家的不同標準需求。
JZKC-ZK004C（貨號）阻抗分析儀產品以其的性能可以實現商業標準和軍用標準如IEC和MIL標準的各種測試。 目前該阻抗分析在各大學校和科研院所中廣泛使用。
一、產品廣泛應用范圍：
1. 無源元件：傳聲器、諧振器、電感器、陶瓷電容器、液晶顯示器、變容二管、變壓器電,壓電器件，芯片組件和網絡元件等的阻抗參數分析和性能分析
2. 半導體元件：變容二管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數分析
3. 其他元件：印制電路板，繼電器，開關，電纜，電池等的阻抗評估
4. 介質材料：塑料，陶瓷和其他材料的介電常數和損耗角評估
5. 磁性材料：鐵氧體，非晶體和其他磁性材料
6. 半導體材料:半導體材料的介電常數，電導率和C-V特性
7. .液晶材料：液晶單元的介電常數、彈性常熟等C-V特性

二、主要技術參數：
1.測試頻率：20HZ-2MHZ或5MHZ(多種可選)
2. 測試電平:10mV～5V±（10%+10mV）
3. 輸出阻抗: 10Ω, 30Ω, 50Ω, 100Ω
4. 測試參數：C,L,R,Z,Y,X,B,G,D,Q,
5. 基本準確度: 0.1%
6. 顯示器: 350×260點陣圖形LCD液晶顯示
7. 可測量22種阻抗參數組合
8. 接口方式: RS232C或HANDLER
9. 電壓:AC-220V
10. 體積：高80mm＊寬205mm＊長230mm
11. 重量:3.5KG
12. 顯示方式：液晶顯示
13.可以配合ZJ-3，ZJ-6型壓電測試儀測試g33系數
14.觸發方式：手動，內觸發，外觸發

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