產(chǎn)品簡介
掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀人人實(shí)驗(yàn)技術(shù)指標(biāo):二次電子分辨率:1.0nm(15 kV); 2.0 nm(1 kV)背散射電子分辨率:3.0 nm(15 kV)電子槍:冷場發(fā)射電子源加速電壓:0.5~30 kV(0.1 kV/步,可變)放大倍率:×30 ~ ×800,000。
公司簡介
公司簡介
人人實(shí)驗(yàn)成立于2015年10月,是一家致力于運(yùn)用共享經(jīng)濟(jì)理念提升科學(xué)研究及工程技術(shù)領(lǐng)域研發(fā)效率的創(chuàng)新型互聯(lián)網(wǎng)科技服務(wù)公司。
核心團(tuán)隊(duì)成員由生物醫(yī)藥、智能制造等領(lǐng)域科學(xué)家,航天科工、微軟、華為等公司資深工程師,清華、北大、中科院等名校畢業(yè)生組成,擁有豐富的互聯(lián)網(wǎng)與科研行業(yè)經(jīng)驗(yàn)。
目前平臺(tái)已入駐3241家專業(yè)實(shí)驗(yàn)室,覆蓋全國223個(gè)城市。上線各類共享儀器設(shè)備50萬余臺(tái),涵蓋10個(gè)領(lǐng)域的檢測、校準(zhǔn)、檢驗(yàn)及認(rèn)證等服務(wù)12萬余項(xiàng)。平臺(tái)還擁有一支超千人的高級(jí)科研顧問團(tuán)隊(duì),覆蓋生物醫(yī)藥、智能制造、化學(xué)化工、材料科學(xué)、能源環(huán)保等10多個(gè)領(lǐng)域。
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掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀人人實(shí)驗(yàn)技術(shù)指標(biāo):二次電子分辨率:1.0nm(15 kV); 2.0 nm(1 kV)背散射電子分辨率:3.0 nm(15 kV)電子槍:冷場發(fā)射電子源加速電壓:0.5~30 kV(0.1 kV/步,可變)放大倍率:×30 ~ ×800,000。掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀人人實(shí)驗(yàn)X射線能譜儀的元素分析范圍為Be4~U92。儀器用途:用于觀察材料表面的微細(xì)形貌、斷口及內(nèi)部組織,并對(duì)材料表面微區(qū)成分進(jìn)行定性和定量分析,掃描電子顯微鏡/X射線能譜儀人人實(shí)驗(yàn)主要用途如下: 金屬、 陶瓷、混凝土、生物、高分子、礦物、纖維等無機(jī)或有機(jī)固體材料的斷口、表面形貌、變形層等的觀察;?材料的相分布和夾雜物形態(tài)成分的鑒定;?金屬鍍層厚度及各種固體材料膜層厚度的測定;?納米材料及其它無機(jī)或有機(jī)固體材料的粒度觀察和分析 ;?進(jìn)行材料表面微區(qū)成分的定性和定量分析。?
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