天瑞芯片鍍層厚度膜厚儀是一款上照式膜厚測試儀。相比于傳統的鍍層測厚設備，不僅在常規的傳統電鍍上表現geng加顯現，geng能hen好地滿足半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。儀器外觀簡潔大方，通過自動化的X軸丫軸Z軸的三維移動，雙激光定位和保護系統，實現對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形

江蘇天瑞儀器股份有限公司是具有自主知識產權的高科技企業，注冊資本49699.087萬。旗下擁有蘇州天瑞環境科技有限公司、北京邦鑫偉業技術開發有限公司、深圳市天瑞儀器有限公司、上海貝西生物科技有限公司、天瑞環境科技（仙桃）有限公司、四川天瑞環境科技有限公司、河南省天瑞環境科技有限公司、廈門質譜儀器儀表有限公司、蘇州天藍祥瑞技術服務有限公司九家全資子公司和江蘇國測檢測技術有限公司、上海磐合科學儀器股份有限公司、沁水璟盛生活垃圾全資源化有限公司、雅安天瑞水務有限公司、安岳天瑞水務有限公司五家控股子公司。總部位于風景秀麗的江蘇省昆山市陽澄湖畔。公司主要從事光譜、色譜、質譜等分析測試儀器及其軟件的研發、生產和銷售。

天瑞芯片鍍層厚度膜厚儀是由江蘇天瑞儀器股份有限公司研發、生產并銷售天瑞芯片鍍層厚度膜厚儀。
天瑞芯片鍍層厚度膜厚儀采用上照式設計，可適應更多異型微小樣品的測試。Quanxin的光路，geng短的光程，相較傳統光路，信號采集效率提 升2倍以上。可變焦高精攝像頭，搭配距離補正系統，不僅可適應微小產品，同時也兼顧了臺階，深槽，沉孔樣品的測試需求。可編程多點測試，能自動完成對多個樣品多個點的測試，dada提高測樣效率。自帶數據校對系統，讓您永遠不再為數據突然變化而擔心。

天瑞芯片鍍層厚度膜厚儀的特點：
kuaisu：一般測量一個樣品只需要5S～40S，樣品可不處理或進行簡單處理； 
無損：物理測量，不改變樣品性質； 
直觀：直觀的分析譜圖，元素分布一幕了然，定性分析sudu快； 
環保：檢測過程中不產生任何廢氣、廢水； 
簡易：對儀器操作人員技術要求較低，儀器操作簡單,且維護方便；
可靠性gao：由于測試過程無人為因素干擾，儀器自身分析jingdu、重復性與穩定性很高。
天瑞芯片鍍層厚度膜厚儀chaogao硬件配置
采用jinkougao分辨率的FAST SDD探測器，高達140ev分辨率，能準確地解析每個元素的特征信號，針對復雜底材以及多層復雜鍍層，youshijuda。Jinkou的gao功率da高壓單元搭配jinkou大功率X光管，能hen好的保障信號輸出與激發的穩定性，同時，故障率也jida的降低。Gao準確度自動化的X軸，Y軸以及Z軸的三維聯動，更準確kuaisu地完成對微小異型（如弧形、拱形、螺紋、球面等）測試點的定位。

檢測實例
天瑞芯片鍍層厚度膜厚儀可針對單鍍層，雙鍍層，多鍍層，合金鍍層等進行kuaisujingzhun測試。

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