膜厚儀 美國博曼BA-100-G膜厚測量儀 是一款高的儀器，專用于五金、線路板行業測量金屬鍍層厚度，如：金、鎳、銀、鈀、錫、鋅、銅等金屬厚度。G系列標準配置包括一個固定準直器，一個固定焦距的相機，固態PIN探測器和質量可靠的微聚焦X射線管。與其他型號一樣，該型號也可升級為包括多個準直器，可變焦點相機和SDD探測

深圳市鼎極天電子有限公司 位于深圳寶安, 主要經銷的分析儀器與設備.

我司是美國博曼 (Bowman) 測厚儀中國華南區總經銷，擁有專業的銷售及維修工程師，專注于BA-100系列測厚儀在國內的銷售與維護。為各地的電路板（PCB、FPC）、LED、SMD、半導體、連接器、端子、緊固件、汽車、五金等制造廠商及高校，科研機構，質量檢測中心等廣大客戶提供快捷、良好的售前及售后服務和技術支持。

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膜厚儀 美國博曼BA-100-G膜厚測量儀 ，兩個顯著的特征是視頻成像，以及使用電動Z軸和基于激光的自動對焦的“自下而上”測量。 后者是Bowman獨有的特征。 一個可用的手動XY平臺，帶有1.5 X 1.5“行程，便于小型和大型零件的定位。 與其他型號相比，腔室相對較小 B系列。 較小的腔室和占地面積非常適合珠寶和其他貴金屬分析應用，以及連接器和緊固件等組件。
膜厚儀 美國博曼BA-100-G膜厚測量儀 XRF是實驗室和生產線的理想選擇，特別是在用戶擁有：
預留擺放空間小
預算有限
優先使用電動Z軸進行“自下而上”操作
需要快速，輕松地定位較小的樣品
ASTM B568，DIN 50987和ISO 3497


膜厚儀 美國博曼BA-100-G膜厚測量儀 產品規格

元素測量范圍：	13號鋁元素 到 92號鈾元素
X射線管：	50 W（50kV和1mA）微聚焦鎢鈀射線管
探測器：	190eV及以上分辨率的Si-PIN固態探測器
分析層數 及元素數：	5層（4層+基材） 每層可分析10種元素，成分分析多可分析25種元素
濾波器/準直器：	4主過濾器/單準直器（可選雙）
焦距：	單個固定焦深，激光和自動對焦
數字脈沖處理：	4096 多通道數字處理器，自動死時間和逃逸峰校正
計算機：	英特爾, 酷睿 i5 3470 處理器 (3.2GHz), 8GB DDR3 內存, 微軟 Windows 10 專業版, 64位
相機：	1 / 4“（6mm）CMOS-1280×720 VGA分辨率
視頻放大倍率：	20x：標準
電源：	150W，100-240V，頻率范圍為47Hz至63Hz
重量：	25kg
馬達控制/可編程XY平臺	不可用
延伸可編程XY平臺：	不可用
可選的手動XY樣品臺	表格大小：279mm（11“）x 254mm（10”）行程：38mm（1.5“）x 38mm（1.5”）
樣品倉尺寸：	高度：100mm（4"），寬度：325mm（13"），深度：300mm（12"）
外形尺寸：	高度：325mm（13"），寬度：350mm（14"），深度：450mm（18"）

987和ISO 3497
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